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在磁性元器件設計的領域里，常用到的量測儀器便是LCR表。對于其量測頁面所顯示的許多L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z/θ 量測結果，可能在許多使用到此類儀器的工程人員腦海中常會浮現(xiàn)出一些問號--- 電感、阻抗、Q值…是怎么量出來的？一般LCR表測試頻率在2MHz內(nèi)，采用的方式多是四端子自動平衡電橋法。本文以HP4284A為例，以簡化的測試回路來呈現(xiàn)四端子Lc-Lp-Hp-Hc測試點所在位置，藉由測試信號源Vosc與待測物(DUT)的端電壓Vm的關系引出LCR表里的偵測元件所直接量測的三個參數(shù)。再透過這三個參數(shù)搭配待測器件的等效串、并聯(lián)模型，引導出其量測頁面所顯示的L/C/R/Q/D/Y/G/B/Z是如何在儀表內(nèi)按相關設定的數(shù)學轉換公式，而得以間接被計算出來的。后提出了串、并聯(lián)模式的選用時機為何？引領讀者探索上述問題的答案，希望能對有志于從事磁性元器件的設計者有所幫助！